設備明細

偏光膜光學檢測設備

  • 料號:GP-001

設備規格介紹Product Introduction








產品特徵:
  1. 檢出300um以上之缺陷瑕疵及矢印辨識。
  2. 缺陷種類:剝離、折痕、Dent、壓傷、刮傷、Mark及筆跡印等等(影像灰階值與背景差異40以上)。
  3. 矢印特徵比對。
  4. 檢測幅寬達1400mm,共8支攝影機同步線上檢測。
  5. 檢測速度為5000 line/sec、解析度0.1mm。

設備注意事項